Rezultati

еНаука >  Резултати >  Positive bias temperature instability of irradiated n-channel thin film transistors
Назив: Positive bias temperature instability of irradiated n-channel thin film transistors
Аутори: Jelenković, Emil V.; Kovačević, Milan  ; Stupar, Dragan Z.; Jha, Shrawan; Bajić, Jovan  ; Tong, K.Y.
Година: 2014
Публикација: Thin Solid Films
ISSN: 0040-6090 Thin Solid Films Pretraži identifikator
Izdavač: Elsevier
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 556 str. 535-538
DOI: 10.1016/j.tsf.2014.01.079
WoS-ID: 000333085700086
Scopus-ID: 2-s2.0-84896392055
URI: https://scidar.kg.ac.rs/handle/123456789/12280
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/133649
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
Podatke uređivali: Miletic, Biserka[Univerzitet u Novom Sadu, Fakultet tehničkih nauka]
M-kategorija: 
21M21 - Rad u vrhunskom međ. časopisu

1
SCOPUSTM
1
OpenCitations
1
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions

Pronađi DOI
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.