Rezultati

eNauka >  Rezultati >  X-ray diffraction study of Cu-25[AsSe1.4I0.2](75) amorphous semiconductor
Naziv: X-ray diffraction study of Cu-25[AsSe1.4I0.2](75) amorphous semiconductor
Autori: Bordas, A; Vučinić-Vasić, Milica  ; Kapor, Agneš; Antić, Bratislav  
Godina: 2001
Publikacija: Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476 Materials Science Forum Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 378-381 str. 394-401
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.378-381.394
WoS-ID: 000172514200063
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/470310
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6324
M-kategorija: 
21M21 - Rad u vrhunskom međ. časopisu

Alt metrika
Dimensions

Pronađi DOI
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.