Резултати

еНаука >  Резултати >  X-ray diffraction study of Cu-25[AsSe1.4I0.2](75) amorphous semiconductor
Назив: X-ray diffraction study of Cu-25[AsSe1.4I0.2](75) amorphous semiconductor
Аутори: Bordas, A; Vučinić-Vasić, Milica  ; Kapor, Agneš; Antić, Bratislav  
Година: 2001
Публикација: Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476 Materials Science Forum Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 378-381 str. 394-401
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.378-381.394
WoS-ID: 000172514200063
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/470310
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6324
М-категорија: 
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.